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Technology Assessment in China

Hahn, Julia; Liao, Miao; Zhao, Yandong

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000091920
Veröffentlicht am 11.03.2019
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technikfolgenabschätzung und Systemanalyse (ITAS)
Publikationstyp Buchaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-7315-0831-1
urn:nbn:de:swb:90-919205
KITopen-ID: 1000091920
Erschienen in Constructing a Global Technology Assessment : Insights from Australia, China, Europe, Germany, India and Russia. Ed.: J. Hahn
Verlag KIT Scientific Publishing, Karlsruhe
Seiten 117-150
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