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Einsatz von Gaußprozessen und Weighted Least-Squares-Verfahren für die Fusion von konfokaler Mikroskopie und Weißlichtinterferometrie / Gaussian processes and weighted least squares methods for fusion of confocal microscopy and white light interferometry

Dutschk, Beate; Pordzik, Matthäus; Heizmann, Michael

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/teme-2018-0034
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 09.2018
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 2196-7113, 0171-8096
KITopen-ID: 1000092069
Erschienen in Technisches Messen
Band 85
Heft s1
Seiten s7–s13
Nachgewiesen in Web of Science
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