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Multi-Stereo-Deflektometrie mit einer Lichtfeldkamera = Multi-stereo deflectometry with a light-field camera

Uhlig, David; Heizmann, Michael

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1515/teme-2018-0042
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Zitationen: 1
Web of Science
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Industrielle Informationstechnik (IIIT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 09.2018
Sprache Deutsch
Identifikator ISSN: 2196-7113, 0171-8096
KITopen-ID: 1000092072
Erschienen in Technisches Messen
Band 85
Heft s1
Seiten s59–s65
Nachgewiesen in Web of Science
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