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Loss tangent mapping measurement on large area diamond discs. An approved quality control method

Meier, Andreas; Scherer, Theo



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Angewandte Werkstoffphysik (IAM-AWP)
Publikationstyp Poster
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000092207
Veranstaltung DPG-Frühjahrstagung der Sektion Kondensierte Materie (SKM), Fachverband Kristalline Festkörper und deren Mikrostruktur (2019), Regensburg, Deutschland, 31.03.2019 – 05.04.2019
Bemerkung zur Veröffentlichung Verhandlungen der Deutschen Physikalischen Gesellschaft, R.6, B.54(2019) KFM 14.9
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