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Talbot-Lau x-ray phase-contrast setup for fast scanning of large samples

Seifert, Maria; Ludwig, Veronika; Kaeppler, Sebastian; Horn, Florian; Meyer, Pascal; Pelzer, Georg; Rieger, Jens; Sand, Daniel; Michel, Thilo; Mohr, Jürgen; Riess, Christian; Anton, Gisela

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000092350
Veröffentlicht am 19.03.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1038/s41598-018-38030-3
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2045-2322
urn:nbn:de:swb:90-923509
KITopen-ID: 1000092350
HGF-Programm 43.23.02 (POF III, LK 01)
Erschienen in Scientific reports
Band 9
Heft 1
Seiten Article no: 4199
Vorab online veröffentlicht am 12.03.2019
Schlagworte Proposal 2014-011-003103, EBL und XRL
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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