KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

A systematic approach to reduce macroscopic defects in c-axis-oriented YBCO films

Krupke, Ralph; Barkay, Z.; Deutscher, G.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/S0921-4534(99)00119-7
Scopus
Zitationen: 3
Dimensions
Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 05.1999
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0921-4534
KITopen-ID: 1000092534
Erschienen in Physica / C
Verlag North-Holland Publishing
Band 317-318
Seiten 536–539
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page