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A systematic approach to reduce macroscopic defects in c-axis-oriented YBCO films

Krupke, Ralph ORCID iD icon; Barkay, Z.; Deutscher, G.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/S0921-4534(99)00119-7
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Zitationen: 2
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 05.1999
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0921-4534
KITopen-ID: 1000092534
Erschienen in Physica / C
Verlag North-Holland Publishing
Band 317-318
Seiten 536–539
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