A systematic approach to reduce macroscopic defects in c-axis-oriented YBCO films
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Nanotechnologie (INT) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 05.1999 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0921-4534 KITopen-ID: 1000092534 |
| Erschienen in | Physica / C |
| Verlag | North-Holland |
| Band | 317-318 |
| Seiten | 536–539 |
| Nachgewiesen in | Scopus |