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A systematic approach to reduce macroscopic defects in c-axis oriented YBCO films

Krupke, Ralph ORCID iD icon; Barkay, Z.; Deutscher, G.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/S0921-4534(99)00199-9
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Zitationen: 10
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 04.1999
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0921-4534
KITopen-ID: 1000092535
Erschienen in Physica / C
Verlag North-Holland Publishing
Band 315
Heft 1-2
Seiten 99–106
Nachgewiesen in Dimensions
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