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Testing normality via a distributional fixed point property in the Stein characterization [in press]

Betsch, S.; Ebner, B.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s11749-019-00630-0
Seitenaufrufe: 1
seit 11.04.2019
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Stochastik (STOCH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1133-0686, 1863-8260
KITopen-ID: 1000092761
Erschienen in TEST
Nachgewiesen in Scopus
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