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Testing normality via a distributional fixed point property in the Stein characterization

Betsch, S.; Ebner, B.

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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1007/s11749-019-00630-0
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Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Stochastik (STOCH)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2020
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1133-0686, 1863-8260
KITopen-ID: 1000092761
Erschienen in TEST
Band 25
Seiten 105-138
Vorab online veröffentlicht am 22.02.2019
Nachgewiesen in Scopus
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