Transport-of-intensity equation (TIE) based phase imaging in a confocal laser scanning microscope
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Angewandte Physik (APH) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-2779-6 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000092831 |
| Erschienen in | 3rd International Conference on Photonics and Optical Engineering; Xi'an; China; 5 December 2018 through 8 December 2018. Ed.: A. Tian |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | Art. Nr.: 110520A |
| Serie | Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering ; 11052 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |