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Transport-of-intensity equation (TIE) based phase imaging in a confocal laser scanning microscope

Zheng, J.; Zuo, C.; Gao, P.



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seit 11.04.2019
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-2779-6
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000092831
Erschienen in 3rd International Conference on Photonics and Optical Engineering; Xi'an; China; 5 December 2018 through 8 December 2018. Ed.: A. Tian
Verlag SPIE, Bellingham (WA)
Seiten Art. Nr.: 110520A
Serie Proceedings of SPIE - The International Society for Optical Engineering ; 11052
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