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Process-driven Data Quality Management ? An Application of the Combined Conceptual Life Cycle Model

Glowalla, Paul; Balazy, Patryk; Basten, Dirk; Sunyaev, Ali


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/HICSS.2014.575
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Zitationen: 25
Dimensions
Zitationen: 19
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Informatik und Formale Beschreibungsverfahren (AIFB)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-147992504-9
ISSN: 1530-1605
KITopen-ID: 1000093038
Erschienen in 47th Hawaii International Conference on System Sciences, HICSS 2014; Waikoloa, HI; United States; 6 January 2014 through 9 January 2014
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 4700-4709
Nachgewiesen in Dimensions
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