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Structural and Thermal Characterisation of Nanofilms by Time-Resolved X-ray Scattering

Plech, Anton; Krause, Bärbel; Baumbach, Tilo; Zakharova, Margarita; Eon, Soizic; Girmen, Caroline; Buth, Gernot; Bracht, Hartmut

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000093236
Veröffentlicht am 03.04.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.3390/nano9040501
Seitenaufrufe: 5
seit 08.04.2019
Downloads: 2
seit 08.04.2019
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Laboratorium für Applikationen der Synchrotronstrahlung (LAS)
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2079-4991
urn:nbn:de:swb:90-932369
KITopen-ID: 1000093236
HGF-Programm 56.03.20 (POF III, LK 01)
Erschienen in Nanomaterials
Band 9
Heft 4
Seiten 501
Vorab online veröffentlicht am 01.04.2019
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