KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Defect injection, Fault Modeling and Test Algorithm Generation Methodology for STT-MRAM

Nair, Sarath M. 1; Bishnoi, Rajendra 1; Tahoori, Mehdi B. 1; Tshagharyan, G.; Grigoryan, H.; Harutyunyan, G.; Zorian, Y.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TEST.2018.8624725
Scopus
Zitationen: 21
Dimensions
Zitationen: 32
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-8382-8
ISSN: 1089-3539
KITopen-ID: 1000093866
Erschienen in Proceedings 2018 IEEE International Test Conference (ITC)
Veranstaltung International Test Conference (ITC 2018), Phoenix, AZ, USA, 29.10.2018 – 01.11.2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art.-Nr.: S 5.1
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page