Defect injection, Fault Modeling and Test Algorithm Generation Methodology for STT-MRAM
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5386-8382-8 ISSN: 1089-3539 KITopen-ID: 1000093866 |
| Erschienen in | Proceedings 2018 IEEE International Test Conference (ITC) |
| Veranstaltung | International Test Conference (ITC 2018), Phoenix, AZ, USA, 29.10.2018 – 01.11.2018 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | Art.-Nr.: S 5.1 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |