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Modeling and Testing of Aging Faults in FinFET Memories for Automotive Applications

Tshagharyan, G.; Harutyunyan, G.; Zorian, Y.; Gebregiorgis, Anteneh 1; Golanbari, Mohammad S. 1; Bishnoi, Rajendra 1; Tahoori, Mehdi B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TEST.2018.8624890
Scopus
Zitationen: 6
Dimensions
Zitationen: 6
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-8382-8
ISSN: 1089-3539
KITopen-ID: 1000093867
Erschienen in Proceedings 2018 IEEE International Test Conference (ITC)
Veranstaltung International Test Conference (ITC 2018), Phoenix, AZ, USA, 29.10.2018 – 01.11.2018
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten Art.-Nr.: Auto 3.1
Nachgewiesen in Dimensions
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