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Epitaxial strain adaptation in chemically disordered FeRh thin films

Witte, Ralf 1; Kruk, Robert 1; Wang, Di ORCID iD icon 1,2; Schlabach, Sabine ORCID iD icon 2; Brand, Richard A. 1; Gruner, Markus E.; Wende, Heiko; Hahn, Horst 1
1 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000094054
Veröffentlicht am 31.01.2023
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.99.134109
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Zitationen: 5
Web of Science
Zitationen: 5
Dimensions
Zitationen: 5
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Institut für Angewandte Materialien – Werkstoffkunde (IAM-WK)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2469-9950, 2469-9969
KITopen-ID: 1000094054
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design
Erschienen in Physical review / B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 99
Heft 13
Seiten Article: 134109
Vorab online veröffentlicht am 26.04.2019
Schlagwörter 2019-022-026569 2019-022-026569 2018-020-022249 TEM FIB
Nachgewiesen in Dimensions
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