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Dielectric relaxation behavior induced by lithium migration in Li$_{4}$Ti$_{5}$O$_{12}$ spinel

Ren, Shaokai; Liu, Jia; Wang, Dawei; Zhang, Jie; Ma, Xing; Knapp, Michael; Liu, Laijun; Ehrenberg, Helmut



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.jallcom.2019.04.216
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Zitationen: 1
Web of Science
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0925-8388
KITopen-ID: 1000094470
HGF-Programm 37.01.12 (POF III, LK 01)
Erschienen in Journal of alloys and compounds
Band 793
Seiten 678–685
Nachgewiesen in Web of Science
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