Front-side biasing of n-in-p silicon strip detectors
Baselga, M. 1; Bergauer, T.; Dierlamm, A.
1; Dragicevic, M.; König, A.; Metzler, M. 1; Pree, E.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Dragicevic, M.; König, A.; Metzler, M. 1; Pree, E.1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP) Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1748-0221 KITopen-ID: 1000095326 |
| HGF-Programm | 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien |
| Erschienen in | Journal of Instrumentation |
| Verlag | Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd) |
| Band | 13 |
| Heft | 11 |
| Seiten | Article: P11007 |
| Vorab online veröffentlicht am | 08.11.2018 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |