KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Front-side biasing of n-in-p silicon strip detectors

Baselga, M. 1; Bergauer, T.; Dierlamm, A. ORCID iD icon 1; Dragicevic, M.; König, A.; Metzler, M. 1; Pree, E.
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000095326
Veröffentlicht am 31.05.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/13/11/P11007
Scopus
Zitationen: 1
Web of Science
Zitationen: 1
Dimensions
Zitationen: 4
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP)
Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000095326
HGF-Programm 54.02.03 (POF III, LK 01) ASICs und Integrationstechnologien
Erschienen in Journal of Instrumentation
Verlag Institute of Physics Publishing Ltd (IOP Publishing Ltd)
Band 13
Heft 11
Seiten Article: P11007
Vorab online veröffentlicht am 08.11.2018
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page