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Front-side biasing of n-in-p silicon strip detectors

Baselga, M.; Bergauer, T.; Dierlamm, A.; Dragicevic, M.; König, A.; Metzler, M.; Pree, E.

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000095326
Veröffentlicht am 31.05.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1088/1748-0221/13/11/P11007
Web of Science
Zitationen: 1
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Experimentelle Teilchenphysik (ETP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1748-0221
KITopen-ID: 1000095326
HGF-Programm 54.02.03 (POF III, LK 01)
Erschienen in Journal of Instrumentation
Band 13
Heft 11
Seiten Article: P11007
Vorab online veröffentlicht am 08.11.2018
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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