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Low-loss and robust DWDM Echelle grating (de-)multiplexers in SOI technology

Zhang, Yunlong; Schneider, Marc; Karnick, Djorn; Eisenblätter, Lars; Kühner, Thomas; Weber, Marc; Digonnet, Michel J. [Hrsg.]; Jiang, Shibin [Hrsg.]



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Prozessdatenverarbeitung und Elektronik (IPE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5106-2471-9
ISSN: 0277-786X
KITopen-ID: 1000095421
HGF-Programm 54.02.02 (POF III, LK 01)
Erschienen in Optical Components and Materials XVI. Ed.: S. Jiang
Veranstaltung SPIE Photonics West (OPTO 2019), San Francisco, CA, USA, 02.02.2019 – 07.02.2019
Verlag SPIE, Bellingham, WA
Seiten 18
Serie Proceedings of SPIE ; 10914
Externe Relationen Abstract/Volltext
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