Fine-grained application source code profiling for ASIP design
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2005 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 1-59593-058-2 KITopen-ID: 1000095433 |
| Erschienen in | DAC '05 Proceedings of the 42nd annual Design Automation Conference, Anaheim, California, USA, June 13 - 17, 2005 |
| Verlag | Association for Computing Machinery (ACM) |
| Seiten | 329-334 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus OpenAlex |
| Globale Ziele für nachhaltige Entwicklung |