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Fine-grained application source code profiling for ASIP design

Karuri, Kingshuk; Al Faruque, Mohammad Abdullah; Kraemer, Stefan; Leupers, Rainer; Ascheid, Gerd; Meyr, Heinrich



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1145/1065579.1065666
Scopus
Zitationen: 46
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2005
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 1-59593-058-2
KITopen-ID: 1000095433
Erschienen in DAC '05 Proceedings of the 42nd annual Design Automation Conference, Anaheim, California, USA, June 13 - 17, 2005
Verlag ACM Press, New York (N.Y.)
Seiten 329-334
Nachgewiesen in Scopus
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