Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsmonat/-jahr | 05.2012 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-4673-0697-3 KITopen-ID: 1000095559 |
Erschienen in | 17th IEEE European Test Symposium (ETS), Annecy, F, May 28 - 31, 2012 |
Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
Seiten | 1 |
Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |