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Dark Silicon - A thermal perspective

Henkel, Jörg



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/VLSI-DAT.2014.6834935
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2014
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-4799-2776-0
KITopen-ID: 1000095574
Erschienen in International Symposium on VLSI Design, Automation and Test (VLSI-DAT), April 28 - 30, 2014, Hsinchu, RC
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
Seiten 1
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