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Inverted Hartmann mask for single-shot phase-contrast x-ray imaging of dynamic processes

Zakharova, M. ORCID iD icon 1; Reich, S. 2; Mikhaylov, A. 1; Vlnieska, V. 1; Santos Rolo, T. D. 2; Plech, A. ORCID iD icon 2; Kunka, D. 1
1 Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/OL.44.002306
Scopus
Zitationen: 7
Web of Science
Zitationen: 7
Dimensions
Zitationen: 7
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mikrostrukturtechnik (IMT)
Institut für Photonenforschung und Synchrotronstrahlung (IPS)
Universität Karlsruhe (TH) – Interfakultative Einrichtungen (Interfakultative Einrichtungen)
Karlsruhe School of Optics & Photonics (KSOP)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0146-9592, 1071-2763, 1071-8842, 1539-4794
KITopen-ID: 1000095607
HGF-Programm 43.23.02 (POF III, LK 01) X-Ray Optics
Weitere HGF-Programme 56.03.20 (POF III, LK 01) Nanoscience a.Material f.Inform.Technol.
Erschienen in Optics letters
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Band 44
Heft 9
Seiten 2306-2309
Nachgewiesen in Dimensions
Web of Science
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