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Robustness for 3-D Circuits - Industrial Perspectives

Henkel, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2016
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2168-2356, 2168-2364
KITopen-ID: 1000095626
Erschienen in IEEE design & test
Band 33
Heft 3
Seiten 4–5
Nachgewiesen in Web of Science
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