Robustness for 3-D Circuits - Industrial Perspectives
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 06.2016 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2168-2356, 2168-2364 KITopen-ID: 1000095626 |
| Erschienen in | IEEE design & test |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 33 |
| Heft | 3 |
| Seiten | 4–5 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus Web of Science |