Modeling and Evaluating the Gate Length Dependence of BTI
Santen, Victor M. van
1; Amrouch, Hussam 1; Henkel, Jörg 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
1; Amrouch, Hussam 1; Henkel, Jörg 11 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1549-7747, 1558-3791 KITopen-ID: 1000095642 |
| Erschienen in | IEEE transactions on circuits and systems / 2 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 66 |
| Heft | 9 |
| Seiten | 1527-1531 |
| Vorab online veröffentlicht am | 10.12.2018 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions |