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Modeling and Evaluating the Gate Length Dependence of BTI [in press]

van Santen, Victor M.; Amrouch, Hussam; Henkel, Jörg



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TCSII.2018.2885850
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1549-7747, 1558-3791
KITopen-ID: 1000095642
Erschienen in IEEE transactions on circuits and systems / 2
Nachgewiesen in Scopus
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