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Modeling and Evaluating the Gate Length Dependence of BTI

van Santen, Victor M.; Amrouch, Hussam; Henkel, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1549-7747, 1558-3791
KITopen-ID: 1000095642
Erschienen in IEEE transactions on circuits and systems / 2
Band 66
Heft 9
Seiten 1527-1531
Vorab online veröffentlicht am 10.12.2018
Nachgewiesen in Web of Science
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