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Recent advances in EM and BTI induced reliability modeling, analysis and optimization (invited)

Tan, Sheldon X.-D.; Amrouch, Hussam; Kim, Taeyoung; Sun, Zeyu; Cook, Chase; Henkel, Jörg



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.vlsi.2017.08.009
Scopus
Zitationen: 12
Web of Science
Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0167-9260
KITopen-ID: 1000095647
Erschienen in Integration, the VLSI journal
Band 60
Seiten 132–152
Nachgewiesen in Scopus
Web of Science
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