Recent advances in EM and BTI induced reliability modeling, analysis and optimization (invited)
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 01.2018 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0167-9260 KITopen-ID: 1000095647 |
| Erschienen in | Integration, the VLSI journal |
| Verlag | Elsevier |
| Band | 60 |
| Seiten | 132–152 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions Web of Science |