Impact of NBTI on Increasing the Susceptibility of FinFET to Radiation
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsmonat/-jahr | 03.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5386-9504-3 KITopen-ID: 1000095656 |
| Erschienen in | 2019 IEEE International Reliability Physics Symposium |
| Veranstaltung | IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS 2019), Monterey, CA, USA, 31.03.2019 – 04.04.2019 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1–6 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |