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A Fine-Grained Soft Error Resilient Architecture under Power Considerations

Hussain, Sajjad; Shafique, Muhammad; Henkel, Jörg



Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/DATE.2019.8714797
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9819263-2-3
KITopen-ID: 1000095662
Erschienen in Proceedings of the 2019 Design, Automation & Test in Europe (DATE)
Veranstaltung Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2019), Florenz, Italien, 25.03.2019 – 29.03.2019
Verlag IEEE
Seiten 972–975
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