From the EIC: Special Section on Test
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 02.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 2168-2356, 2168-2364 KITopen-ID: 1000095670 |
| Erschienen in | IEEE design & test |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 36 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 4 |
| Nachgewiesen in | Scopus Web of Science Dimensions OpenAlex |