KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

From the EIC: Special Section on Test

Henkel, Jörg



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2168-2356, 2168-2364
KITopen-ID: 1000095670
Erschienen in IEEE design & test
Band 36
Heft 1
Seiten 4
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page