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Resolution enhancement in quantitative phase microscopy

Micó, V.; Zheng, J.; Garcia, J.; Zalevsky, Z.; Gao, Peng 1,2
1 Institut für Angewandte Physik (APH), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Institut für Nanotechnologie (INT), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1364/AOP.11.000135
Scopus
Zitationen: 73
Dimensions
Zitationen: 78
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Physik (APH)
Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1943-8206
KITopen-ID: 1000095687
HGF-Programm 43.23.01 (POF III, LK 01) Advanced Optical Lithography+Microscopy
Erschienen in Advances in optics and photonics
Verlag Optica Publishing Group (OSA)
Band 11
Heft 1
Seiten 135-214
Nachgewiesen in Dimensions
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