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Runtime Monitoring for Dependable Hardware Design

Vijayan, Arunkumar

Abstract:
Mit dem Voranschreiten der Technologieskalierung und der Globalisierung der Produktion von integrierten Schaltkreisen eröffnen sich eine Fülle von Schwachstellen bezüglich der Verlässlichkeit von Computerhardware. Jeder Mikrochip wird aufgrund von Produktionsschwankungen mit einem einzigartigen Charakter geboren, welcher sich durch seine Arbeitsbedingungen, Belastung und Umgebung in individueller Weise entwickelt. Daher sind deterministische Modelle, welche zur Entwurfszeit die Verlässlichkeit prognostizieren, nicht mehr ausreichend um Integrierte Schaltkreise mit Nanometertechnologie sinnvoll abbilden zu können. ... mehr

Abstract (englisch):
With technology scaling advancement and globalization of integrated circuit (IC) manufacturing, a host of vulnerabilities affect dependability of computing hardware. Each integrated circuit chip is born with a unique personality due to process variations and grows uniquely due to operating conditions, workload and environment. Hence, design-time solutions for dependability, based on deterministic models, are no longer sufficient for ICs fabricated at nanoscale technology nodes. There is a need for runtime analysis of the state of a system and adoption of appropriate mitigation actions to ensure dependability.
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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000095742
Veröffentlicht am 13.06.2019
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Hochschulschrift
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000095742
Verlag Karlsruhe
Umfang XXIII, 122 S.
Abschlussart Dissertation
Fakultät Fakultät für Informatik (INFORMATIK)
Institut Institut für Technische Informatik (ITEC)
Prüfungsdatum 06.06.2019
Referent/Betreuer Prof. M. B. Tahoori
Schlagworte aging, soft error, hardware trojan, machine learning
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