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Fast and Reliable STT-MRAM Using Nonuniform and Adaptive Error Detecting and Correcting Scheme

Sayed, N. 1; Bishnoi, R. 1; Tahoori, M. B. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TVLSI.2019.2903592
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Zitationen: 12
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Zitationen: 12
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1063-8210, 1557-9999
KITopen-ID: 1000095844
Erschienen in IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 27
Heft 6
Seiten 1329-1342
Vorab online veröffentlicht am 27.03.2019
Nachgewiesen in Dimensions
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