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On the Efficiency of Voltage Overscaling under Temperature and Aging Effects [in press]

Amrouch, Hussam; Ehsani, Seyed Borna; Gerstlauer, Andreas; Henkel, Jörg



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TC.2019.2916869
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9340, 1557-9956, 2326-3814
KITopen-ID: 1000095962
Erschienen in IEEE transactions on computers
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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