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Virtual Test Environment for Efficient Verification of Software Updates for Variant-Rich Automotive Systems

Guissouma, Houssem 1; Lauber, Andreas 1; Mkadem, Amir 1; Sax, Eric 1
1 Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/SYSCON.2019.8836898
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Zitationen: 4
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Zitationen: 5
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-5386-8396-5
KITopen-ID: 1000096093
Erschienen in The 13th Annual IEEE International Systems Conference (SysCon), Orlando, FL, April 8 –11, 2019
Veranstaltung 13th IEEE International Systems Conference (SysCon 2019), Orlando, FL, USA, 08.04.2019 – 11.04.2019
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Dimensions
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