KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Bayesian Optimized Importance Sampling for High Sigma Failure Rate Estimation

Weller, Dennis D.; Hefenbrock, Michael; Golanbari, Mohammad S.; Beigl, Michael; Tahoori, Mehdi B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.23919/DATE.2019.8714879
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Telematik (TM)
Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-3-9819263-2-3
ISSN: 1558-1101
KITopen-ID: 1000096111
Erschienen in Proceedings of the 2019 Design, Automation & Test in Europe (DATE), 25-29 March 2019, Florence, Italy
Veranstaltung Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2019), Florenz, Italien, 25.03.2019 – 29.03.2019
Verlag IEEE
Seiten 1667-1672
Nachgewiesen in Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page