Bayesian Optimized Importance Sampling for High Sigma Failure Rate Estimation
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) Institut für Telematik (TM) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-3-9819263-2-3 ISSN: 1558-1101 KITopen-ID: 1000096111 |
| Erschienen in | Proceedings of the 2019 Design, Automation & Test in Europe (DATE), 25-29 March 2019, Florence, Italy |
| Veranstaltung | Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE 2019), Florenz, Italien, 25.03.2019 – 29.03.2019 |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Seiten | 1667-1672 |
| Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |