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Level-1 track trigger with Central Drift Chamber detector in Belle II experiment

Lai, Y.-T.; Baehr, S.; Chang, M. C.; Iwasaki, Y.; Kim, J. B.; Kim, K. T.; Kiesling, C.; Lu, P. C.; Liu, S. M.; Moon, H. K.; Moon, T. J.; Nakazawa, H.; Shiu, J. G.; Sheng, T. Z.; Wang, C. H.; Won, E.



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technik der Informationsverarbeitung (ITIV)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2018
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000096270
Erschienen in 2018 IEEE Nuclear Science Symposium and Medical Imaging Conference / 25th International Symposium on Room-Temperature Semiconductor X-Ray and Gamma-Ray Detectors (IEEE NSS/MIC 2018), Sydney, AUS, November 10-17, 2018
Verlag IEEE, Piscataway, NJ
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