A Simulation Study of NBTI Impact on 14-nm Node FinFET Technology for Logic Applications: Device Degradation to Circuit-Level Interaction
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsmonat/-jahr | 01.2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 0018-9383, 1557-9646 KITopen-ID: 1000096418 |
| Erschienen in | IEEE transactions on electron devices |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 66 |
| Heft | 1 |
| Seiten | 271–278 |
| Vorab online veröffentlicht am | 26.10.2018 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |