KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

A Simulation Study of NBTI Impact on 14-nm Node FinFET Technology for Logic Applications: Device Degradation to Circuit-Level Interaction

Mishra, Subrat; Amrouch, Hussam 1; Joe, Jerin; Dabhi, Chetan K.; Thakor, Karansingh; Chauhan, Yogesh S.; Henkel, Jorg 1; Mahapatra, Souvik
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TED.2018.2875813
Scopus
Zitationen: 45
Web of Science
Zitationen: 38
Dimensions
Zitationen: 47
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 01.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0018-9383, 1557-9646
KITopen-ID: 1000096418
Erschienen in IEEE transactions on electron devices
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Band 66
Heft 1
Seiten 271–278
Vorab online veröffentlicht am 26.10.2018
Nachgewiesen in Web of Science
Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page