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Determining fundamental properties from diffraction: Electric field induced strain and piezoelectric coefficient

Hinterstein, M. 1; Lee, K.-Y. 1; Esslinger, S.; Glaum, J.; Studer, A. J.; Hoffman, M.; Hoffmann, M. J. 1
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


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Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.99.174107
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien – Keramische Werkstoffe und Technologien (IAM-KWT1)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2469-9950, 2469-9969
KITopen-ID: 1000096426
Erschienen in Physical review / B
Verlag American Physical Society (APS)
Band 99
Heft 17
Seiten Art.Nr. 174107
Vorab online veröffentlicht am 17.05.2019
Nachgewiesen in Web of Science
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