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Determining fundamental properties from diffraction: Electric field induced strain and piezoelectric coefficient

Hinterstein, M.; Lee, K.-Y.; Esslinger, S.; Glaum, J.; Studer, A. J.; Hoffman, M.; Hoffmann, M. J.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1103/PhysRevB.99.174107
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Zitationen: 1
Web of Science
Zitationen: 1
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Angewandte Materialien - Energiespeichersysteme (IAM-ESS)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2469-9950, 2469-9969
KITopen-ID: 1000096426
Erschienen in Physical review / B
Band 99
Heft 17
Seiten Art.Nr. 174107
Vorab online veröffentlicht am 17.05.2019
Nachgewiesen in Web of Science
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