Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Automation und angewandte Informatik (IAI) |
Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
Publikationsdatum | 21.06.2019 |
Sprache | Englisch |
Identifikator | ISBN: 978-1-5106-2802-1 KITopen-ID: 1000096445 |
HGF-Programm | 43.22.03 (POF III, LK 01) Printed Materials and Systems |
Erschienen in | Automated Visual Inspection and Machine Vision III - SPIE Optical Metrology, 2019, Munich, Germany, 24-27 JUNE 2019. Ed.: J. Beyerer, F. Puente León |
Veranstaltung | SPIE Optical Metrology (2019), München, Deutschland, 24.06.2019 – 27.06.2019 |
Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
Seiten | 1106103 |
Serie | SPIE Proceedings ; 11061 |
Nachgewiesen in | Scopus Dimensions |