A Comprehensive Framework for Parametric Failure Modeling and Yield Analysis of STT-MRAM
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Technische Informatik (ITEC) |
| Publikationstyp | Zeitschriftenaufsatz |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISSN: 1063-8210, 1557-9999 KITopen-ID: 1000096490 |
| Erschienen in | IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems |
| Verlag | Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) |
| Band | 27 |
| Heft | 7 |
| Seiten | 1697-1710 |
| Vorab online veröffentlicht am | 26.03.2019 |
| Nachgewiesen in | Web of Science Dimensions Scopus |