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A Comprehensive Framework for Parametric Failure Modeling and Yield Analysis of STT-MRAM

Nair, S. M.; Bishnoi, R.; Tahoori, M. B.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/TVLSI.2019.2904197
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1063-8210, 1557-9999
KITopen-ID: 1000096490
Erschienen in IEEE transactions on very large scale integration (VLSI) systems
Band 27
Heft 7
Seiten 1697-1710
Vorab online veröffentlicht am 26.03.2019
Nachgewiesen in Scopus
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