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Microscopic origin of highly enhanced current carrying capabilities of thin NdFeAs(O,F) films

Kauffmann-Weiss, Sandra; Iida, Kazumasa; Tarantini, Chiara; Boll, Torben; Schneider, Reinhard; Ohmura, Taito; Matsumoto, Takuya; Hatano, Takafumi; Langer, Marco; Meyer, Sven; Jaroszynski, Jan; Gerthsen, Dagmar; Ikuta, Hiroshi; Holzapfel, Bernhard; Hänisch, Jens

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000097017
Veröffentlicht am 01.08.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1039/C9NA00147F
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Institut für Technische Physik (ITEP)
Karlsruhe Nano Micro Facility (KNMF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2516-0230
KITopen-ID: 1000097017
HGF-Programm 37.06.02 (POF III, LK 01)
Erschienen in Nanoscale Advances
Seiten 1-13
Vorab online veröffentlicht am 05.06.2019
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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