Investigation on Non-invasive Current Mismatch Measurement in Paralleled GaN HEMTs

Lauer, A. ¹; Niakan, H.; Hiller, Marc ¹; Parkhideh, B.
¹ Elektrotechnisches Institut (ETI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)

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Zugehörige Institution(en) am KIT	Elektrotechnisches Institut (ETI)
Publikationstyp	Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr	2019
Sprache	Englisch
Identifikator	ISBN: 978-89-5708-313-0 ISSN: 2150-6086 KITopen-ID: 1000098660
Erschienen in	10th International Conference on Power Electronics - ECCE Asia, May 27 - 30, 2019 / BEXCO, Busan, Korea
Veranstaltung	10th International Conference on Power Electronics - ECCE Asia (ICPE 2019), Busan, Südkorea, 27.05.2019 – 30.05.2019
Verlag	Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten	899-904
Nachgewiesen in	Scopus