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Investigation on Non-invasive Current Mismatch Measurement in Paralleled GaN HEMTs

Lauer, A.; Niakan, H.; Hiller, M.; Parkhideh, B.



Zugehörige Institution(en) am KIT Elektrotechnisches Institut (ETI)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-89-5708-313-0
ISSN: 2150-6086
KITopen-ID: 1000098660
Erschienen in 10th International Conference on Power Electronics - ECCE Asia, May 27 - 30, 2019 / BEXCO, Busan, Korea
Veranstaltung 10th International Conference on Power Electronics - ECCE Asia (ICPE-ECCE ASIA 2019), Busan, Südkorea, 27.05.2019 – 30.05.2019
Verlag IEEE
Seiten 899-904
Nachgewiesen in Scopus
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