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Investigation of hole-free phase plate performance in transmission electron microscopy under different operation conditions by experiments and simulations

Pretzsch, Rebecca 1; Dries, Manuel 1; Hettler, Simon 1; Spiecker, Martin 2; Obermair, Martin 1; Gerthsen, Dagmar 1
1 Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)
2 Physikalisches Institut (PHI), Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000098710
Veröffentlicht am 07.10.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1186/s40679-019-0067-z
Scopus
Zitationen: 11
Dimensions
Zitationen: 14
BibTeX (UTF-8) BibTeX (ASCII) EndNote/Refer (.enw) RIS CSL-JSON ISI
Cover der Publikation
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Universität Karlsruhe (TH) – Zentrale Einrichtungen (Zentrale Einrichtungen)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2198-0926
KITopen-ID: 1000098710
Erschienen in Advanced structural and chemical imaging
Verlag SpringerOpen
Band 5
Heft 1
Seiten Art.Nr. 5
Bemerkung zur Veröffentlichung Gefördert durch den KIT-Publikationsfonds
Vorab online veröffentlicht am 01.10.2019
Nachgewiesen in OpenAlex
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