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Investigation of hole-free phase plate performance in transmission electron microscopy under different operation conditions by experiments and simulations [in press]

Pretzsch, Rebecca; Dries, Manuel; Hettler, Simon; Spiecker, Martin; Obermair, Martin; Gerthsen, Dagmar

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Verlagsausgabe §
DOI: 10.5445/IR/1000098710
Veröffentlicht am 07.10.2019
Originalveröffentlichung
DOI: 10.1186/s40679-019-0067-z
Coverbild
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 2198-0926
KITopen-ID: 1000098710
Erschienen in Advanced structural and chemical imaging
Band 5
Heft 1
Seiten 11 S.
Vorab online veröffentlicht am 01.10.2019
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