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Detecting and locating patterns in time series using machine learning [in press]

Janka, Dennis; Lenders, Felix; Wang, Shiyu; Cohen, Andrew; Li, Nuo



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.conengprac.2019.104169
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0967-0661
KITopen-ID: 1000098711
Erschienen in Control engineering practice
Band 93
Seiten Art.Nr.: 104169
Nachgewiesen in Scopus
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