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Detecting and locating patterns in time series using machine learning

Janka, Dennis; Lenders, Felix; Wang, Shiyu; Cohen, Andrew; Li, Nuo



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.conengprac.2019.104169
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Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsmonat/-jahr 12.2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0967-0661
KITopen-ID: 1000098711
Erschienen in Control engineering practice
Verlag Elsevier
Band 93
Seiten Art.Nr.: 104169
Nachgewiesen in Dimensions
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