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Differential electron scattering cross-sections at low electron energies: The influence of screening parameter

Čalkovský, M.; Müller, E.; Hugenschmidt, M.; Gerthsen, D.



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1016/j.ultramic.2019.112843
Zugehörige Institution(en) am KIT Laboratorium für Elektronenmikroskopie (LEM)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0304-3991, 1879-2723
KITopen-ID: 1000098751
Erschienen in Ultramicroscopy
Band 207
Seiten Article No.112843
Vorab online veröffentlicht am 03.09.2019
Nachgewiesen in Scopus
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