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Registration of an ICP Plasma CV Dependences under Various Pressures in the Plasma-Chemical Deep Etching System

Iankevich, Gleb A.


Originalveröffentlichung
DOI: 10.4028/www.scientific.net/kem.822.587
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Nanotechnologie (INT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1662-9795
KITopen-ID: 1000098835
HGF-Programm 43.22.01 (POF III, LK 01) Functionality by Design
Erschienen in Key engineering materials
Verlag Trans Tech Publications
Band 822
Seiten 587–593
Vorab online veröffentlicht am 24.09.2019
Nachgewiesen in Scopus
Dimensions
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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