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High repetition-rate electro-optic sampling of CSR and bunch shapes: Recent studies using photonic time-stretch

Bielawski, S.

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Volltext §
DOI: 10.5445/IR/1000098937
Veröffentlicht am 14.10.2019
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Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Beschleunigerphysik und Technologie (IBPT)
Publikationstyp Vortrag
Jahr 2017
Sprache Englisch
Identifikator KITopen-ID: 1000098937
HGF-Programm 54.01.01 (POF III, LK 01)
Veranstaltung 6th International Beam Instrumentation Conference (IBIC 2017), Grand Rapids, MI, USA, 20.08.2017 – 24.08.2017
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
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