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Deep Integration: A Multi-Label Architecture for Road Scene Recognition

Chen, Long; Zhan, Wujing; Tian, Wei; He, Yuhang; Zou, Qin



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Mess- und Regelungstechnik mit Maschinenlaboratorium (MRT)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 1057-7149, 1941-0042
KITopen-ID: 1000098973
Erschienen in IEEE transactions on image processing
Band 28
Heft 10
Seiten 4883–4898
Vorab online veröffentlicht am 07.05.2019
Nachgewiesen in Web of Science
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