KIT | KIT-Bibliothek | Impressum | Datenschutz

Estimating labeling quality with deep object detectors

Haase-Schutz, Christian; Hertlein, Heinz; Wiesbeck, Werner



Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Jahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72810-560-4
ISSN: 2642-7214
KITopen-ID: 1000099008
Erschienen in 2019 IEEE Intelligent Vehicles Symposium (IV), 9-12 June 2019, Paris, France
Veranstaltung 30th IEEE Intelligent Vehicles Symposium (IV 2019), Paris, Frankreich, 09.06.2019 – 12.06.2019
Verlag IEEE
Seiten 33-38
Nachgewiesen in Scopus
KIT – Die Forschungsuniversität in der Helmholtz-Gemeinschaft
KITopen Landing Page