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Estimating labeling quality with deep object detectors

Haase-Schutz, Christian 1; Hertlein, Heinz 1; Wiesbeck, Werner
1 Karlsruher Institut für Technologie (KIT)


Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/IVS.2019.8814144
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Zitationen: 6
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Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Hochfrequenztechnik und Elektronik (IHE)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72810-560-4
ISSN: 2642-7214
KITopen-ID: 1000099008
Erschienen in 2019 IEEE Intelligent Vehicles Symposium (IV), 9-12 June 2019, Paris, France
Veranstaltung 30th IEEE Intelligent Vehicles Symposium (IV 2019), Paris, Frankreich, 09.06.2019 – 12.06.2019
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Seiten 33-38
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