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NCFET-Aware Voltage Scaling

Salamin, Sami; Rapp, Martin; Amrouch, Hussam; Pahwa, G.; Chauhan, Y.; Henkel, Jörg



Originalveröffentlichung
DOI: 10.1109/ISLPED.2019.8824802
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Zitationen: 6
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Zitationen: 6
Zugehörige Institution(en) am KIT Institut für Technische Informatik (ITEC)
Publikationstyp Proceedingsbeitrag
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISBN: 978-1-72812-954-9
ISSN: 1533-4678
KITopen-ID: 1000099156
Erschienen in 2019 IEEE/ACM International Symposium on Low Power Electronics and Design (ISLPED), 29-31 July 2019, Lausanne, Switzerland
Veranstaltung ACM/IEEE International Symposium on Low Power Electronics and Design (ISLPED 2019), Lausanne, Schweiz, 29.07.2019 – 31.07.2019
Verlag Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE)
Nachgewiesen in Dimensions
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