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On the Logistic Behaviour of the Topological Ultrametricity of Data

Bradley, Patrick Erik



Zugehörige Institution(en) am KIT Fakultät für Bauingenieur-, Geo- und Umweltwissenschaften (BGU)
Institut für Photogrammetrie und Fernerkundung (IPF)
Publikationstyp Zeitschriftenaufsatz
Publikationsjahr 2019
Sprache Englisch
Identifikator ISSN: 0176-4268, 1432-1343
KITopen-ID: 1000099484
Erschienen in Journal of classification
Verlag Springer
Band 36
Heft 2
Seiten 266-276
Nachgewiesen in Scopus
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