Application of DOE in confocal microscopy for surface measurement
| Zugehörige Institution(en) am KIT | Institut für Anthropomatik und Robotik (IAR) |
| Publikationstyp | Proceedingsbeitrag |
| Publikationsjahr | 2019 |
| Sprache | Englisch |
| Identifikator | ISBN: 978-1-5106-2981-3 ISSN: 0277-786X KITopen-ID: 1000099535 |
| Erschienen in | Photonics and Education in Measurement Science 2019. Ed.: M. Rosenberger |
| Veranstaltung | Joint TC1 - TC2 International Symposium on Photonics and Education in Measurement Science (2019), Jena, Deutschland, 17.09.2019 – 19.09.2019 |
| Verlag | Society of Photo-optical Instrumentation Engineers (SPIE) |
| Seiten | Art.-Nr.: 1114411 |
| Serie | Proceedings of SPIE ; 11144 |
| Nachgewiesen in | Dimensions Scopus |